Представлен оптический терморефлекторный метод измерения теплопроводности тонкопленочных материалов. Показана схема измерения образца и способ обработки экспериментальных данных для расчета теплопроводности изучаемой структуры.

Демченко П.С. (науч. рук. Ходзицкий М., Новотельнова А.В.) Оптический метод измерения теплопроводности двухмерных наноматериалов // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2021]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/6613