В данном докладе будет произведен обзор актуальных технологий IoT, CV и ML, оборудования и кейсов, используемых в системах контроля качества продукции.

Стаканов В.А., Колесников М.В. (науч. рук. Афанасьев М.Я.) Применение средств IoT, CV и ML в системах контроля качества продукции // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2021]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/5486