В данной работе были исследованы характеристики высокочастотных силовых радиочастотных PIN диодов. Проведен сравнительный анализ полностью исправных и дефектных диодов c позиции радиочастотных шумов. Исследование шумовых процессов и их связь с дефектами диодов может улучшить самодиагностику и безопасность различных радиочастотных устройств, например магнитно-резонансных томографов.
Пахлавонова К.Д. (науч. рук. Серегин П.С.) Исследование шумовых свойств неисправных PIN диодов большой мощности // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2022]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/7899