В настоящее время, несмотря на развитие математических методов, определение и прогнозирование показателей надежности сложных электронных устройств, особенно при ускоренных испытаниях, затруднительно по ряду причин. Это и сложная структура, и разнообразие видов отказов, и многообразие физико-химических процессов, развивающихся в материалах. С другой стороны, использование высоконадежной элементной базы и методов резервирования, позволяет повысить надежность электронных узлов и всей аппаратуры до такого уровня, что при ускоренных испытаниях отказов может вообще не наблюдаться. Вместе с тем прогнозирование остаточного ресурса при эксплуатации в тяжелых условиях также проблематично из-за сложности их учета.

Кутарева Е.А., Николаев К.С. (науч. рук. Бондаренко И.Б.) Проблемы и методы прогнозирования показателей надежности радио-электронной аппаратуры // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2021]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/7389