Записаны интерференционные решетки с периодом 530 нм и глубиной рельефа рельефа 20 нм на поверхности полупроводниковых пленок. Исследованы оптические свойства решеток на пропускание и отражение при нормальном падении излучения видимого диапазона. Выявлена зависимость отражения решётки от ориентации линий решетки относительно поляризации исходного пучка.
Долгополов А.Д. (науч. рук. Сергеев М.М.) Пикосекундная лазерная запись и оптические характеристики нанорешеток в AlZnO:Ag золь-гель пленках // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2021]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/5581