Проведено сравнение ячеек Поккельса на основе кристаллов КТР X- и Y-среза при интенсивном воздействии лазерного излучения с длиной волны 1064 нм и длительностью импульса 35 пс. Определены допустимые рабочие диапазоны пиковой мощности для двух типов ячеек Поккельса.
Коваль В.В., Едигарев А.В. (науч. рук. Викторов Е.А.) Исследование ячеек Поккельса на кристаллах KTP X- и Y-среза при воздействии интенсивного пикосекундного излучения // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2021]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/5451