Разработаны и исследованы прямые и инвертированные массивы микропитов на поликарбонатной подложке для метрологической оценки линейных параметров и апертуры зондов-нанопипеток в сканирующем капиллярном микроскопе (СКМ). Структуры получены методом термомеханической штамповки с использованием мастер-формы DVD и охарактеризованы референтной атомно-силовой микроскопией. Сопоставление профилей, зарегистрированных методами АСМ и СКМ в hopping-режиме, позволило выполнить градуировку по осям X, Y и Z, а также количественно оценить уширение перепадов высот, связанное с диаметром апертуры. Показана применимость полимерных структур для калибровки и анализа пространственного разрешения СКМ.

Банков А.А., Жуков М.В. (науч. рук. Жуков М.В.) Прямой и инвертированный массив микропитов для оценки линейных параметров объектов и апертуры зондов-нанопипеток в сканирующем капиллярном микроскопе // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2026]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/17497