Васильев М.Д., Ершов С.В. (науч. рук. Синев Д.А., Москвин М.К.) Исследование зависимости тензометрических свойств сенсора деформаций на основе гибких дифракционных решеток от его геометрических характеристик и спектральных свойств осветителя
Предложен подход к созданию датчиков деформаций на основе гибких дифракционных решеток. Предложен метод импринт-литографии для переноса рельефа лазерно-индуцированных периодических поверхностных структур (ЛИППС) на нержавеющей стали на силиконовые пленки различной толщины. Измерена чувствительность образцов при освещении решеток лазерным излучением с длинами волн 650 нм и 532 нм. Определена теоретическая зависимость чувствительности сенсоров.
Васильев М.Д., Ершов С.В. (науч. рук. Синев Д.А., Москвин М.К.) Исследование зависимости тензометрических свойств сенсора деформаций на основе гибких дифракционных решеток от его геометрических характеристик и спектральных свойств осветителя // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2026]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/17241