В работе описан метод контроля процесса анодирования с помощью простой рефлектометрии. Полученные экспериментально и при помощи моделирования спектры сопоставляются между собой для определения морфологических параметров плёнок, а именно толщины. Результаты данного исследования могут быть использованы в фотовольтаике, сенсорах и оптических покрытиях.
Тельнов И.С. (науч. рук. Никитин И.Ю.) Взаимосвязь характеристик тока и оптических свойств в процессе анодирования тонких пленок // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2024]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/13117