Данное исследование сосредотачивается на оценке алгоритмов компьютерного зрения для обнаружения дефектов на микросхемах, с акцентом на их применение в контроле качества микрочипов акселерометров. Работа анализирует классические и новые методы, включая использование нейронных сетей. Рассмотрены преимущества и ограничения каждого подхода, включая обучение с учителем и без учителя. Основываясь на полученных данных, разработана методика для эффективного обнаружения дефектов на микросхемах, что обещает повышение качества и надежности в производстве электроники, соответствуя требованиям рынка.
Бывальцев А.А. (науч. рук. Гусев А.А.) ПОИСК ДЕФЕКТОВ НА ПЛАСТИНАХ ЧУВСТВИТЕЛЬНОГО ЭЛЕМЕНТА МИКРОМЕХАНИЧЕСКОГО АКСЕЛЕРОМЕТРА МЕТОДАМИ МАШИННОГО ОБУЧЕНИЯ // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2024]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/12650