Проведенные исследования позволили выявить степень влияния шероховатости поверхности акцепторной подложки на электрические характеристики токопроводящих структур, полученных при осаждении меди из глубоких эвтектических растворителей под лазерным воздействием волоконного лазера с длиной волны 1070 нм, и сформулировать рекомендации к выбору режимов структурирования акцепторной подложки для достижения заданных электрических характеристик структур.

Степанюк Д.С., Заикина М.А., Елтышева Е.А. (науч. рук. Синев Д.А.) ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ АКЦЕПТОРНОЙ ПОДЛОЖКИ НА ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ТОКОПРОВОДЯЩИХ СТРУКТУР, ОСАЖДЕННЫХ ИЗ ГЛУБОКИХ ЭВТЕКТИЧЕСКИХ РАСТВОРИТЕЛЕЙ // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2024]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/12296