Статья

Горбенко Л.Е., Бурмистров О.И. (науч. рук. Серегин П.С.) Исследование влияния характеристик PIN-диодов на качество изображений в магнитно-резонансной томографии
УДК тезиса: УДК 537.6/.8

Магнитно-резонансная томография является ведущей технологией в области исследования тканей и внутренних органов. Высокое качество изображений МРТ во многом обязана ближнепольным антеннам в МРТ – катушках, которые принимают слабый радиосигнал из исследуемых областей тела. PIN-диоды являются важным элементом современных МРТ катушек. Однако в ходе эксплуатации МРТ в редких случая могут проявляться дефекты, которые вызывают снижение качества и появление искажений на МР-изображениях (так называемые артефакты). Часть таких дефектов происходит по причине дефектов PIN-диодов. На сегодняшний день система штатной диагностики катушек МРТ не дает оценки степени изношенности PIN-диодов. Данная работа предлагает методику ранней диагностики PIN-диодов в катушках МРТ.

Авторы:

Горбенко Лев Евгеньевич

Бурмистров Олег Ильич

Руководитель:

Серегин Павел Сергеевич

Горбенко Л.Е., Бурмистров О.И. (науч. рук. Серегин П.С.) Исследование влияния характеристик PIN-диодов на качество изображений в магнитно-резонансной томографии // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2023]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/11852