Шероховатые поверхности обладают сложной топографией, которую нельзя охарактеризовать одним значением. Выбор подходящих параметров шероховатости зависит от конкретного применения. Большие наборы данных, представляющие топографию поверхности, обладают упорядоченностью, которая может быть выражена в топологических особенностях пространств данных высокой размерности, отражающих такие свойства, как анизотропия и количество направлений укладки. Мы изучаем наномасштабную шероховатость поверхности, обусловленную сонохимической обработкой, используя участки размером 5х5 пикселей, полученные с помощью изображений атомно-силовой микроскопии. Мы вычисляем параметры шероховатости, длину корреляции, диаграммы постоянства и баркоды. Эти представляющие интерес параметры обсуждаются и сравниваются.

Бурдуленко О.В. (науч. рук. Скорб Е.В., Уласевич С.А.) Обработка данных атомно-силовой микроскопии методом топологического анализа данных. Изучение шероховатости // Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, [2023]. URL: https://kmu.itmo.ru/digests/article/11149